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一种碳化硅晶体位错增强检测设备制造技术
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文档序号:31897427
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本实用新型实施例公开了一种碳化硅晶体位错增强检测设备,包括图像采集器、上光源以及下光源,所述上光源设置在下光源的上方,且上光源和下光源之间形成供碳化硅晶体水平放置的区域,所述图像采集器设置在上光源的上方,并采集上光源于碳化硅晶体上的反射光图...
该专利属于上海谦视智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海谦视智能科技有限公司授权不得商用。
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