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本发明提供一种半导体装置及其制造方法,该半导体装置包括:一基底;一介电层,形成于该基底上;一开口,形成于该介电层中;一第一阻障层,覆盖于该开口的侧壁;一第二阻障层,覆盖于该第一阻障层上与该开口的底部;以及一导电层,填入该开口。本发明所述的半...该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种半导体装置及其制造方法,该半导体装置包括:一基底;一介电层,形成于该基底上;一开口,形成于该介电层中;一第一阻障层,覆盖于该开口的侧壁;一第二阻障层,覆盖于该第一阻障层上与该开口的底部;以及一导电层,填入该开口。本发明所述的半...