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半导体装置之制造方法及半导体装置制造方法及图纸
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文档序号:3178269
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本发明的目的在于提高半导体装置的成品率。在无引线封装型半导体装置的制造工序中,使用引线2b前端部被压溃加工的压框。引线2b的半导体芯片侧的前端部,随着越接近半导体芯片越变低而倾斜。据此,可减小引线2b前端部的压溃加工量,因此,可抑制或防止引...
该专利属于株式会社瑞萨科技所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社瑞萨科技授权不得商用。
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