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本发明是有关于一种分离式结构的探针，用来接触一待测物，以对其电气特性进行探测。本发明所提供的探针具有一接触头，可以用来接触待测物，并且此探针具有一第一针体和一第二针体。其中，第一针体与接触头互相连接，以传送一测试讯号到待测物上来进行探测。另...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。

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