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本实用新型公开了一种半导体元件长时间测试装置，包括工作台、设置在工作台上的x轴滑移机构、设置在x轴滑移机构上的上料机构和下料机构；所述上料机构包括第一机架、设置在第一机架上的y轴滑移机构、设置在y轴滑移机构上的第二机架、设置在第二机架上的开...
该专利属于广东歌得智能装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东歌得智能装备有限公司授权不得商用。

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