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一种新型的纳米磁性薄膜透射电镜试样的制备工艺，它可以利用一些现成的超声波切割机和砂轮切割机以及小机床，花费较少的人力和物力，制备出薄区良好的纳米磁性薄膜透射电镜试样，可以方便的进行纳米磁性薄膜的纳米尺度组织形貌观察和研究，深入了解磁性薄膜的...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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