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本发明公开了一种元件的拍摄方法，该方法包括以下的步骤：S10、拍摄第一图像，通过第一拍摄单元拍摄元件整体，取得第一图像；S20、根据元件关键特征区域不同于其他区域的信息，提取出包含关键特征区域信息的区域；S30、根据第一图像，分析出第一图像...
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