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本发明涉及一种基于相空间重构的电子元器件的故障判断方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取按电子元器件编号排列的多项参数测试数据的矩阵；将测试数据按照某一自变量参数进行排序，对其他所有参数列按照时间延迟嵌入法绘制二维或三位相空间轨迹图...
该专利属于中科苏州微电子产业技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中科苏州微电子产业技术研究院授权不得商用。

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