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用于检测半导体存贮器件的刷新地址信号的电路制造技术
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下载用于检测半导体存贮器件的刷新地址信号的电路的技术资料
文档序号:3087779
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一种具有使用了多个内部更新地址信号的自更新功能的半导体存贮器件的更新地址检测电路,包括有多个地址检测通道,每个通道包含有一个具有更新地址信号的初始逻辑电平的第一子通道和更新地址信号的第二子通道;多个比较器,每个比较器接收来自第一子通道的更新...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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