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提供了一种用于测试半导体存储器件的装置和方法，其中测试模式信号的频率能够选择性地被改变。所述测试装置包括主测试器、输入频率转换器和输出频率转换器。所述主测试器产生具有第一频率的第一输入测试模式信号、第一编程控制信号、和第二编程控制信号，接收...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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