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为了高效测试，存储器模块的每个存储器芯片测试来自Ｘ个存储区的总共Ｎ个数据位，并从存储区之一输出Ｎ／Ｘ个测试数据位。存储器模块包括多个存储器芯片和多个比较单元。每个比较单元被配置在各自的存储器芯片中，用来测试来自多个存储区的多个测试数据位。另...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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