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一种检验非易失性存储器件的初始状态的方法，从存储控制器接收检验单位的初始状态的命令和与单位相应的单位地址。响应于所述命令，检验与单位地址相应的存储单元的初始状态。将单位的检验结果传送到存储控制器。...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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