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在测试模式设置操作下交接测试系统和嵌入式存储器的方法和装置制造方法及图纸
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下载在测试模式设置操作下交接测试系统和嵌入式存储器的方法和装置的技术资料
文档序号:3082889
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本发明提供了使安装在存储器系统上的存储器模块或安装在存储器模块上的数个存储器进入测试模式的方法,和引入了执行该方法的第一寄存器和第二寄存器。每个存储器制造者提供了相互不同的使存储器进入测试模式的MRS代码和相互不同的使存储器进入测试模式的方...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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