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一种内建式自我测试启动方法，适用于启动待测电路中的内建式自我测试，包括：　　　　在至少一个存储器模块中配置具有预定尺寸的至少一个存储器区段，作为测试结果模块；　　　　启动适用于上述待测电路的内建式自我测试；以及　　　　存储测试结果于上述测试...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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