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本发明提供一种存储器测试的方法，用以测试有多个单元板及多个位线板的存储器，包括下列步骤：将存储器置于测试模式；套用测试样本至存储器；当写入“１”到既定单元时，提供第一电压到单元板，第一电压高于一正供应电压的一半；当写入“０”到既定单元时，提...该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种存储器测试的方法，用以测试有多个单元板及多个位线板的存储器，包括下列步骤：将存储器置于测试模式；套用测试样本至存储器；当写入“１”到既定单元时，提供第一电压到单元板，第一电压高于一正供应电压的一半；当写入“０”到既定单元时，提...