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抵消半导体结构形成期间的半导体材料损耗制造技术
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文档序号:30730295
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在第一方面,本发明涉及一种用于形成半导体结构(10)的方法,包括:(a)提供结构,该结构包括(i)衬底(20)、(ii)该衬底(20)上的层堆叠(30)、以及(iii)穿过该层堆叠(30)的沟槽(40),该层堆叠(30)包括半导体材料的至少...
该专利属于IMEC非营利协会所有,仅供学习研究参考,未经过IMEC非营利协会授权不得商用。
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