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本发明涉及一种光盘记录介质特性的测试装置，该装置由物镜及力矩器、光路系统、激光器、恒功率控制、脉宽发生、功率发生、信号探测器以及聚焦预搜索及控制组成。一定功率的激光聚焦于测试样片的记录介质层某点，测定其反射回的光强从而得到该点反射率，再发出...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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