专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
南亚科技股份有限公司
>
测试阵列结构、晶圆结构与晶圆测试方法技术
>技术资料下载
下载测试阵列结构、晶圆结构与晶圆测试方法的技术资料
文档序号:30711151
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种测试阵列结构、晶圆结构与晶圆测试方法,测试阵列结构包括基板、第一胞、第二胞、第一与第二位线环以及四个字线。第一与第二胞中的每一个都具有依序排列且彼此连接在一起的第一漏极区、第一栅极区、源极区、第二栅极区以及第二漏极区。第一胞...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。