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用于给芯片测试单元的温控头上胶的装置制造方法及图纸
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下载用于给芯片测试单元的温控头上胶的装置的技术资料
文档序号:30645356
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本发明涉及一种用于给芯片测试单元的温控头上胶的装置,包括:把手;设置在所述把手一端的基座;可移动地设置在所述基座上并且能够在复位弹簧的作用下复位的刮胶器,所述刮胶器具有刮刀;设置在所述刮胶器上方并且装有丝网的上压板,所述刮刀能够对所述丝网上...
该专利属于英特尔公司所有,仅供学习研究参考,未经过英特尔公司授权不得商用。
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