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本技术涉及一种半导体存储器设备和操作半导体存储器设备的方法。半导体存储器设备包括：包括存储器单元的存储器块；外围电路，被配置为在测试操作期间在设定编程状态中对存储器单元进行编程，并且对在设定编程状态中被编程的存储器单元执行测试擦除电压施加操...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

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