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本发明公开一种系统级测试设备及系统级测试系统。系统级测试设备包含：设备本体、芯片承载装置及控制装置。设备本体中的固持机构用以固持系统电路板。芯片承载装置包含承载电路板，承载电路板设置多个电连接座及多个连接结构。多电连接座与多个连接结构电性连...
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