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本发明公开一种芯片测试电路及其测试方法。芯片测试电路包含参数测量电路、多个电源供应电路、多个开关电路及控制电路。多个电源供应电路分别对多个电连接座承载的多个芯片提供电源供应。每一个开关电路电性连接于一个电连接座与一个电源供应电路之间。控制电...
该专利属于第一检测有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过第一检测有限公司授权不得商用。

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