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本发明公开了一种基于32位MCU芯片测试的智能探针卡，所述的微型电磁铁从上至下固设于基板内部中端，所述的继电器固设于基板前端下侧，所述的视觉检测器固设于基板前端左右两侧，所述的探针从上至下滑动设于基板内部左右两侧，所述的挡板固设于探针外壁，...
该专利属于合肥市华达半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥市华达半导体有限公司授权不得商用。

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