温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型适用于芯片测试领域，提供了一种芯片老化测试系统，该系统包括微控制器，以及与该微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与该电压源控制电路电连接的电压源电路。在本实用新型中，电压源控制电路在微控制器的...
该专利属于比亚迪股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过比亚迪股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。