The utility model is suitable for chip testing field, provides a chip aging test system, the system includes a microcontroller, and the microcontroller is electrically connected to the input control circuit, voltage control circuit, signal detection circuit and a memory, and the voltage control circuit is electrically connected to the voltage source circuit. In the utility model, the voltage source control circuit under the control of the microcontroller, voltage controlled voltage source circuit on and off, thereby providing a chip testing environment continues to experience the power up and power down process in a short period of time for the aging test chip, a signal detection circuit detects the chip aging based on the test data, the test data analysis, can get the aging performance of the chip, thus the service life of the chip.
【技术实现步骤摘要】
本技术属于芯片测试领域，尤其涉及一种芯片老化测试系统。技术背景在芯片的使用过程中，例如LCD驱动芯片(也称为LCD Driver)等，由 于该种芯片需要不断地经历上电和掉电的状态更替，久而久之，会使芯片老化， 从而发生失效等后果。为了测试芯片能够承受的上电和掉电的沖击次数，以得 到芯片的使用寿命，有必要提供一种能够让芯片快速进行上电和掉电冲击(间 隔时间为几秒)的测试系统，为芯片老化测试提供一个让芯片快速老化的测试 环境，从而测试出芯片的老化性能。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种芯片老化测试系统，旨在解决现有技术存 在的由于难以测试芯片的老化性能，而无法得知芯片的使用寿命的问题。本技术是这样实现的， 一种芯片老化测试系统，所述系统包括微控制 器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测 电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入 控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所 述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的 输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压...
【技术保护点】
一种芯片老化测试系统，其特征在于，所述系统包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据，并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。
【技术特征摘要】
1、一种芯片老化测试系统，其特征在于，所述系统包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据，并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。2、 如权利要求1所述的芯片老化测试系统，其特征在于，所述系统还包括 与所述微控制器进行双向通信的传输控制电路，所述微控制器通过所述传输控 制电路将所述存储器中的测试数据上传至PC机...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄林，朱祥，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]
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