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本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种延时测量电路、AC校准装置及IC测量装置，延时测量电路包括同步信号源，用以分多次且每次产生一个不同频率的连续方波信号；被测通道，用以与同步信号源连接并分多次接收连续方波信号；参考电路，用以与同步信号...
该专利属于绅克半导体科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过绅克半导体科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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