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使用目标或产品的形状双折射的晶片对准制造技术
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下载使用目标或产品的形状双折射的晶片对准的技术资料
文档序号:30224719
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一种对准方法,包括:引导具有第一偏振态的照射束以形成来自对准目标的、具有第二偏振态的衍射束;和使所述衍射束传递通过偏振分析器。所述对准方法还包括:测量所述衍射束的偏振态;和根据所测量的偏振态,相对于其初始偏振态来确定所述对准目标的部位。所述...
该专利属于ASML控股股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML控股股份有限公司授权不得商用。
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