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公开了一种存储器件，其包括：衬底；在衬底上的下导电层；堆叠结构，包括交替地堆叠在下导电层上的栅极层和层间绝缘层；在沟道孔中的沟道结构，该沟道孔在垂直方向上穿透堆叠结构；以及在公共源极线沟槽中的公共源极线结构，该公共源极线沟槽在垂直方向上穿透...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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