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本发明涉及一种用于检验包括至少一个开关元件(14)的开关器件(10)的功能性的方法以及一种相应的检验设备(40)，其中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件(14)，其中，该或每个开关元件(14)的开关状态通过开关元件(14)的控...
该专利属于西门子股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子股份公司授权不得商用。

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