用于自动检验开关器件的方法和设备技术

本发明专利技术涉及一种用于检验包括至少一个开关元件(14)的开关器件(10)的功能性的方法以及一种相应的检验设备(40)，其中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件(14)，其中，该或每个开关元件(14)的开关状态通过开关元件(14)的控制输入端(16)并且借助由控制单元(12)产生的并且输出到控制输入端(16)的控制信号(30)来影响，其中，将激活信号(44)输出到控制单元(12)，该激活信号导致控制信号(30)的改变，其中，激活信号(44)引起检验信号(46)作为控制信号(30)的改变，并且引起切断脉冲(46)作为检验信号(46)，其中，在SiC功率半导体或GaN功率半导体在反向方向上传导电流期间，其借助切断脉冲(46)被切断，其中，采集SiC功率半导体或GaN功率半导体上的电压降作为对切断脉冲(46)的响应，其中，实施标识(50)与参考(52)之间的比较，该标识编码SiC功率半导体或GaN功率半导体上的采集到的电压降，该参考编码对切断脉冲(46)的预期的响应，并且其中，依据比较结果产生状态信号(56)，该状态信号对开关器件(10)的功能性进行编码。(10)的功能性进行编码。(10)的功能性进行编码。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于自动检验开关器件的方法和设备


[0001]本专利技术涉及一种开关器件的功能监控，并且在这方面涉及一种用于自动检验包括至少一个开关元件的开关器件的功能性的方法和设备。开关器件在此和下文中是指开关和保护器件、即在连接到电网、尤其是直流电网的耗电器或具有多个耗电器的网络分支/负载区域的上游连接的开关和保护器件。这种开关和保护器件包括至少一个可电切换的开关元件，并且在故障情况下将耗电器或负载区域与馈电侧分离。这是开关和保护器件的保护功能。同样也可以借助开关和保护器件通过作用到开关和保护器件上的开关指令导致切断该或每个连接至开关和保护器件的耗电器以及从开关和保护器件出发的负载区域。这是开关和保护器件的开关功能。

技术介绍

[0002]这种开关器件的功能性对于具有至少一个这样的开关器件的系统(即电网、尤其是直流电网)的可用性来说是必不可少的。
[0003]开关器件的故障迄今被认为是残余风险。因此可以接受的是，在故障情况下，具有连接到相应的电网的耗电器的设施的大部分会停止，例如因为并联的负载区域的开关器件和/或在电网内等级更高地定位的开关器件由于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件(14)的开关器件(10)的功能性的方法，其中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件(14)，其中，所述或每个开关元件(14)的开关状态通过开关元件(14)的控制输入端(16)并且借助由控制单元(12)产生的并且输出到所述控制输入端(16)的控制信号(30)来影响，其中，将激活信号(44)输出到控制单元(12)，所述激活信号导致控制信号(30)的改变，其中，所述激活信号(44)引起检验信号(46)作为控制信号(30)的改变，并且引起切断脉冲(46)作为检验信号(46)，其中，在SiC功率半导体或GaN功率半导体在反向方向上传导电流期间，所述SiC功率半导体或GaN功率半导体借助所述切断脉冲(46)被切断，其中，采集SiC功率半导体或GaN功率半导体上的电压降作为对切断脉冲(46)的响应，其中，实施标识(50)与参考(52)之间的比较，所述标识编码SiC功率半导体或GaN功率半导体上的采集到的电压降，所述参考编码对切断脉冲(46)的预期的响应，并且其中，依据比较结果产生状态信号(56)，所述状态信号对开关器件(10)的功能性进行编码。2.一种用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件(14)的开关器件(10)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：H希尔林，
申请(专利权)人：西门子股份公司，
类型：发明
国别省市：