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本申请公开了一种半导体结构及其形成方法，该半导体结构包括：衬底；多个存储区，多个所述存储区在衬底上阵列排布，用于形成存储器件；多个切割道，每个所述切割道位于相邻两个所述存储区之间；对准标记，位于所述切割道中，形成于所述衬底上，靠近两个所述存...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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