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本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种延时测量电路、同步信号补偿装置及IC测量装置，其延时测量电路包括分路模块、排序电路、参考电路和锁存器，分路模块用以将待测通道内的上升沿信号分成N路上升沿信号；其中，N为大于1的整数；排序电路用以对N...
该专利属于绅克半导体科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过绅克半导体科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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