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本发明涉及一种通用LED测试装置及测试方法，属于LED测试技术领域，该方法包括：测试平台，测试平台内嵌有置物台，置物台内开有置物台窗口，置物台的上表面设有上层测试夹，上层测试夹连接有金属电极柱，金属电极柱的顶部位于测试平台的上方，金属电极柱...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

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