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用于在带电粒子装置中进行光学测量的装置制造方法及图纸
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下载用于在带电粒子装置中进行光学测量的装置的技术资料
文档序号:29713147
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带电粒子检查系统可以包括具有孔径或一个以上孔径的屏蔽板,例如,以允许通过附加仪器进行附加检查,该附加仪器需要到感兴趣区域的视线。诸如窗口元件或凸起边缘的场成形元件被放置在孔径处以防止或减少电场的分量。...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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