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本实用新型提供一种IC芯片检测装置的收料机构，其包括机台、分料组件、良品收纳组件和不良品收纳组件，机台包括顶部的顶板和侧面的斜板，顶板与地面平行，顶板和斜板夹角为钝角，斜板上设置有检测站待料轨道，检测站待料轨道用于检测后的IC芯片的暂存，分...
该专利属于深圳市华力宇电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华力宇电子科技有限公司授权不得商用。

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