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本发明属于视觉检测技术领域，具体涉及一种芯片尺寸图像测量的自适应建模方法，包括：相机标定获取像素尺寸，建立芯片设计尺寸与像素尺寸之间的映射关系，将用户输入的芯片设计尺寸根据映射关系转换到像素坐标系中，在像素坐标系下建立芯片的量测ROI模板。...
该专利属于聚时科技(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过聚时科技(上海)有限公司授权不得商用。

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