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一种低损耗和漏电的沟槽MOS功率器件制造技术
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下载一种低损耗和漏电的沟槽MOS功率器件的技术资料
文档序号:29552313
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本实用新型涉及一种低损耗和漏电的沟槽MOS功率器件,包括多个沟槽MOS器件单胞重复排列并联构成;每个单胞结构包括:衬底;设置于衬底表面的外延层;设置于外延层内的沟槽;在沟槽的底部且位于外延层内的部分形成N型杂质的一次注入掺杂;设置于沟槽侧壁...
该专利属于无锡惠芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡惠芯半导体有限公司授权不得商用。
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