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本发明提供观察用治具，其用于容易地观察封装器件芯片等芯片的侧面。观察用治具(2)具有：台(4)，其在正面具有对芯片(34)进行保持的粘接层(10)；框体(6)，其具有与台(4)的背面对应地形成的贯通开口(20)，并且该框体(6)将台(4)支...
该专利属于株式会社迪思科所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社迪思科授权不得商用。

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