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本发明公开了一种半导体生产线的调度优化方法及装置，旨在能够找到影响长期性能参数的瓶颈短期性能参数，并根据瓶颈短期性能参数制定调度策略。本发明的一种半导体生产线的调度优化方法包括：采集半导体生产线的性能参数，所述性能参数包括短期性能参数和作为...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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