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本发明提供了一种辉光放电质谱中钼屑的制样方法，所述制样方法包括如下步骤：将待测钼屑放置于导电基体的盲孔中，然后进行压片，完成对钼屑的制样。本发明通过在导电基体设置盲孔，利用导电基体的盲孔对钼屑进行制样，减少了样品可能造成的污染，提高了检测数...
该专利属于宁波江丰电子材料股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波江丰电子材料股份有限公司授权不得商用。

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