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本申请提供一种3D NAND存储器件的制造方法，在对沟道孔侧壁的氮化硅层进行氧化时，首先在第一温度下进行氧化，得到沟道孔的顶部和底部氧化较为均匀的第一氧化膜，之后再在第二温度下继续进行氧化，由于第一氧化膜对含氧化合物的消耗较少，使得含氧化合...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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