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一种去除锑化镓单晶片残余应力的退火方法技术
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文档序号:28749141
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本发明提供一种去除锑化镓单晶片残余应力的退火方法,包括:S1,选用液封直拉法生长的锑化镓单晶片;S2,将锑化镓单晶片有序、间隔地竖直放置在石英样品架上,将石英样品架水平放置在石英管底部;S3,将石英管抽真空,用氢氧焰烧结封口;S4,将封口的...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。
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