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一种串行式Ｉ／Ｏ测试方法，其由一测试系统执行以测试一具有第一接脚、第二接脚与第三接脚的存储器元件。该方法包括：通过第一接脚输入一时脉至存储器元件；通过第二接脚输入一串行式地址至存储器元件，其中串行式地址同步于时脉而输入。其更包括：输入一指令...
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