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本发明公开了一种新型温度传感器高低温测试装置，包括：箱体，用于改变箱体内部的测试温度并放置测试模块；测试模块，可拆卸设置于箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；显示模块，位于箱体上，用于显示信息和接收输入数据；分拣模块，用于放置和转移待测...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

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