一种新型温度传感器高低温测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种新型温度传感器高低温测试装置，包括：箱体，用于改变箱体内部的测试温度并放置测试模块；测试模块，可拆卸设置于箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；显示模块，位于箱体上，用于显示信息和接收输入数据；分拣模块，用于放置和转移待测元器件；控制模块，位于箱体内部，与箱体、测试模块、显示模块、分拣模块电性连接，用于控制测试装置稳定运行。其中，测试模块包括：手动测试模块和自动测试模块。本发明专利技术提供的新型温度传感器高低温测试装置结构简单，能够实现手动测试和自动测试两种测试模式，应用面广，并且能够实现批量元器件测试，极大提高了测试效率，节省测试时间。

【技术实现步骤摘要】
一种新型温度传感器高低温测试装置
本专利技术属于测试设备
，尤其涉及一种新型温度传感器高低温测试装置。
技术介绍
随着微电子技术的快速发展，集成电路的功能也愈加丰富，因而对于集成电路的要求也越来越高。而作为传感器一员的温度传感器也因此被广泛关注。温度传感器是能够检测温度的传感器，对其进行检测时要对其温度精度进行检测，这时就用到了高低温测试装置。众所周知，高低温测试装置是集成电路测试中不可或缺的项目之一，同时，高低温环境对温度传感器的功能及性能影响很大。传统的高低温测试装置，在测试时都需要不停的开启温箱门，这样大大降低了测试速度，妨碍了大批量测试进程。而行业中部分企业采用热流罩测试设备，但价格昂贵，大幅增加了测试成本，并且此方法单次测试芯片数量有限，实用性较低。
技术实现思路
鉴于上述技术问题，本专利技术提供了一种新型温度传感器高低温测试装置，以填补温度传感器产品批量测试的需求，提供了高效、快速高低温测试装置的研发方向，解决了高低温测试装置成本高且测试低效的问题。在本专利技术实施方式的一方面中，提供了一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型温度传感器高低温测试装置，其特征在于，包括：/n箱体，用于改变所述箱体内部的测试温度并放置测试模块；/n所述测试模块，可拆卸设置于所述箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；/n显示模块，位于所述箱体上，用于显示信息和接收输入数据；/n分拣模块，用于放置和转移待测元器件；/n控制模块，位于所述箱体内部，与所述箱体、所述测试模块、所述显示模块、所述分拣模块电性连接，用于控制所述测试装置稳定运行。/n

【技术特征摘要】
1.一种新型温度传感器高低温测试装置，其特征在于，包括：
箱体，用于改变所述箱体内部的测试温度并放置测试模块；
所述测试模块，可拆卸设置于所述箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；
显示模块，位于所述箱体上，用于显示信息和接收输入数据；
分拣模块，用于放置和转移待测元器件；
控制模块，位于所述箱体内部，与所述箱体、所述测试模块、所述显示模块、所述分拣模块电性连接，用于控制所述测试装置稳定运行。


2.根据权利要求1所述的新型温度传感器高低温测试装置，其特征在于，所述箱体一侧开设有第一通孔，所述在第一通孔对侧开设有第二通孔和矩形槽。


3.根据权利要求1所述的新型温度传感器高低温测试装置，其特征在于，所述测试模块包括：
手动测试模块，位于所述箱体上的第二通孔一侧，用于进行手动测试；
自动测试模块，位于所述箱体上的第一通孔一侧，用于进行自动化测试。


4.根据权利要求3所述的新型温度传感器高低温测试装置，其特征在于，所述手动测试模块包括：
平板支架，用于支撑第一样品盒，其中，所述平板支架一端固定有手柄，所述手柄靠近所述平板支架端外侧设置有密封圈，所述平板支架通过所述密封圈卡接于所述箱体上的第二通孔上；
多个所述第一样品盒，均匀固定于所述平板支架上侧，用于放置所述待测元器件。


5.根据权利要求3所述的新型温度传感器高低温测试装置，其特征在于，所述自动测试模块包括：
传动装置，卡接于所述箱体上的所述第一通孔一侧，用于传送所述待测元器件；其中，所述传动装置包括两个传动轴和一个第一传送带，两个所述传动轴分别位于所述第一通孔和所述箱体上的矩形槽内侧；所述第一传送带包裹于两个所述传动轴外侧；
多个第二样品盒，均匀固定于所述第一传送带上侧，用于放置所述待测元器件；
导入装置，卡接于所述箱体上的第一通孔上，用于将所述分拣模块内的所述待测元器件导入至所述第二样品盒内；
第...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴艳荣，李文昌，鉴海防，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11