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反熔丝结构及其制作方法技术
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文档序号:28324339
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本发明涉及一种反熔丝结构及其制作方法。所述制作方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底中具有浅沟槽隔离结构、有源区和反熔丝区;利用离子注入工艺和沉积工艺,在所述半导体衬底上形成所述栅氧化材料层;在形成所述栅氧化材料层的半导体基板上形成栅电极...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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