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适用于芯片测试系统的测试平台技术方案
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下载适用于芯片测试系统的测试平台的技术资料
文档序号:28084781
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本实用新型公开了一种适用于芯片测试系统的测试平台,包括:承片台,其上设置待测芯片;至少一测试座,装设于所述承片台上;转接板,电性连接于所述测试座及测试电路;其中,所述待测芯片根据驱动信号进行动作后,所述测试座通过探针或键合线电性连接于所述待...
该专利属于清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过清华大学授权不得商用。
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