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一种硅控整流器及其制造方法技术
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文档序号:28043210
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本发明公开了一种硅控整流器包括:N阱和P阱形成于P型半导体衬底上部;第一高浓度P型掺杂区和第一高浓度N型掺杂区形成于N阱上部;第二高浓度P型掺杂区和第二高浓度N型掺杂区形成于P阱上部;第三高浓度P型掺杂区形成于N阱和P阱分界处上方。本发明还...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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