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非易失性芯片错误注入验证方法、装置、存储介质和终端制造方法及图纸
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下载非易失性芯片错误注入验证方法、装置、存储介质和终端的技术资料
文档序号:27774391
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本发明公开了一种非易失性芯片错误注入验证方法、装置、存储介质和终端,通过预先编写错误类型,然后依次发送已经编写好的错误激励,对错误激励进行解析,在模拟模型执行相应操作时,根据错误激励判断模拟模型中执行相应操作的存储单元是否为错误激励中标记的...
该专利属于深圳市芯天下技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市芯天下技术有限公司授权不得商用。
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