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制造半导体器件的方法技术
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文档序号:27748106
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一种制造半导体器件的方法,包括:在衬底上形成有源区;在所述衬底上形成与所述有源区相交的栅极结构;去除所述栅极结构的上部并形成栅极覆层;形成电连接到所述有源区的一部分的初步接触插塞,所述初步接触插塞包括第一部分和第二部分;形成包括第一图案层和...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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